Doprava zdarma při nákupu nad 1 499 Kč přes Zásilkovnu nebo PPL Box.

Zjistit stav objednávky

Staňte se součástí komunity milovníků knih z celého světa a získejte hromadu výhod. Založit účet zdarma

Doprava zdarma se Zásilkovnou nad 1 499 Kč

Kurýr DPD 69 Kč PPL shop 49 Kč Balíkovna 69 Kč PPL kurýr 74 Kč PPL box 39 Kč Balíkovna 49 Kč Výdejní místo DPD 49 Kč Zásilkovna 39 Kč

Kontakt

Jak nakupovat

Pomoc

Můj účet

▸ Prázdný :-(

Doprava zdarma při nákupu nad 1 499 Kč přes Zásilkovnu nebo PPL Box.

Applied Scanning Probe Methods II

Name: Applied Scanning Probe Methods II
Brand: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
SKU: 01560759
Price: 3451 CZK
Availability: InStock
Author: Bharat Bhushan
ISBN: 9783540262428

Scanning Probe Microscopy Techniques

Bharat Bhushan

Harald Fuchs

Jazyk

Angličtina

Kniha Pevná

Libristo kód: 01560759

Nakladatelství Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG, říjen 2005

Volumes II, III and IV examine the physical and technical foundation for recent progress in applied... Celý popis

Libristo kód: 01560759

345 b

3 451 Kč

Skladem u dodavatele Odesíláme za 10-13 dnů

Až 30 dní na vrácení zboží

Zákazníci také koupili

David Jiří David

binding.

167 Kč

Detlev von Liliencron - AEsthetische Studie Franz Oppenheimer

Brožovaná

287 Kč

ANKO KA JADU AMIT GARG

Adobe ePub DRM

261 Kč

Elogio de la experiencia (Bolsillo) HONORE CARL

Brožovaná

301 Kč

Lernen mit Teo und Tia Deutsch - 1. Klasse Volksschule mit CD Verena Müller

Brožovaná

335 Kč

Umut Yeserdi Baris Yarkadas

Brožovaná

303 Kč

Los enigmas ocultos de Shakespeare Alejandro Polanco

Adobe ePub DRM

579 Kč

Passover Haggadah Peter Gandolphy

Brožovaná

524 Kč

Die Ganzheit von Wirtschaft, Staat und Gesellschaft. Walter Heinrich

Pevná

3 328 Kč

Hlas ticha / Voice of Silence Jiří Mazánek

Pevná

210 Kč

Volumes II, III and IV examine the physical and technical foundation for recent progress in applied near-field scanning probe techniques, and build upon the first volume published in early 2004. The field is progressing so fast that there is a need for a second set of volumes to capture the latest developments. It constitutes a timely comprehensive overview of SPM applications, now that industrial applications span topographic and dynamical surface studies of thin-film semiconductors, polymers, paper, ceramics, and magnetic and biological materials. Volume II introduces scanning probe microscopy, including sensor technology, Volume III covers the whole range of characterization possibilities using SPM and Volume IV offers chapters on uses in various industrial applications. The international perspective offered in these three volumes - which belong together - contributes further to the evolution of SPM techniques.