Doprava zdarma při nákupu nad 1 499 Kč přes Zásilkovnu nebo PPL Box.

Zjistit stav objednávky

Staňte se součástí komunity milovníků knih z celého světa a získejte hromadu výhod. Založit účet zdarma

Doprava zdarma se Zásilkovnou nad 1 499 Kč

Kurýr DPD 69 Kč PPL shop 49 Kč Balíkovna 69 Kč PPL kurýr 74 Kč PPL box 39 Kč Balíkovna 49 Kč Výdejní místo DPD 49 Kč Zásilkovna 39 Kč

Kontakt

Jak nakupovat

Pomoc

Můj účet

▸ Prázdný :-(

Doprava zdarma při nákupu nad 1 499 Kč přes Zásilkovnu nebo PPL Box.

Applied Scanning Probe Methods IV

Name: Applied Scanning Probe Methods IV
Brand: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
SKU: 01560829
Price: 2646 CZK
Availability: InStock
Author: Bharat Bhushan
ISBN: 9783540269120

Industrial Applications

Bharat Bhushan

Harald Fuchs

Jazyk

Angličtina

Kniha Pevná

Libristo kód: 01560829

Nakladatelství Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG, únor 2006

Volumes II, III and IV examine the physical and technical foundation for recent progress in applied... Celý popis

Libristo kód: 01560829

265 b

2 646 Kč

Skladem u dodavatele v malém množství Odesíláme za 13-18 dnů

Až 30 dní na vrácení zboží

Zákazníci také koupili

Deutsche Dichter des 20. Jahrhunderts Hartmut Steinecke

Brožovaná

1 260 Kč

Educando con exito: : Estrategias para crear un ambiente de respeto, aprecio y eficiencia Yvette Carter Galland

Brožovaná

465 Kč

Vom Forschungsnahen Zum Forschenden Lernen an Hochschulen Ludwig Huber

Brožovaná

1 214 Kč

Eneagrama Kimberly Moon

Brožovaná

308 Kč

Warum sind am Himmel Wolken?, 1 Audio-CD Kati Naumann

Audio CD

277 Kč

Mythes et légendes scandinaves Patrice

Brožovaná

302 Kč

La sombra de Aton Nacho Ares

Adobe ePub DRM

368 Kč

Volumes II, III and IV examine the physical and technical foundation for recent progress in applied near-field scanning probe techniques, and build upon the first volume published in early 2004. The field is progressing so fast that there is a need for a second set of volumes to capture the latest developments. It constitutes a timely comprehensive overview of SPM applications, now that industrial applications span topographic and dynamical surface studies of thin-film semiconductors, polymers, paper, ceramics, and magnetic and biological materials. Volume II introduces scanning probe microscopy, including sensor technology, Volume III covers the whole range of characterization possibilities using SPM and Volume IV offers chapters on uses in various industrial applications. The international perspective offered in these three volumes - which belong together - contributes further to the evolution of SPM techniques.