Doprava zdarma se Zásilkovnou nad 1 499 Kč
PPL Parcel Shop 54 Balík do ruky 74 Balíkovna 49 GLS 54 Kurýr GLS 64 PPL 99 Zásilkovna 54

Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si3N4 Interfaces

Jazyk AngličtinaAngličtina
Kniha Brožovaná
Kniha Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si3N4 Interfaces Weronika Walkosz
Libristo kód: 01427604
Nakladatelství Springer-Verlag New York Inc., května 2013
This book offers results that influence many high temperature and pressure applications. It provides...
? points 331 b
3 313
Skladem u dodavatele v malém množství Odesíláme za 12-17 dnů

30 dní na vrácení zboží


Mohlo by vás také zajímat


Die Verachtung der Massen Peter Sloterdijk / Brožovaná
common.buy 226
Marina Tsvetaeva Simon Karlinsky / Brožovaná
common.buy 1 606
Requirements Engineering Lars Nielsen / Brožovaná
common.buy 1 174
Addicted to Chinese food Turone Green / Brožovaná
common.buy 479
Constructing and Applying Objective Functions Andranik S. Tangian / Brožovaná
common.buy 3 313
Arbeitszeitrecht in der Weimarer Republik. Sabine Bischoff / Brožovaná
common.buy 1 582
CHAMPION 2 LIVRE DU PROFESSEUR Annie Monnerie-Goarin / Brožovaná
common.buy 677

This book offers results that influence many high temperature and pressure applications. It provides findings that will offer increased control over the performance of ceramic and semiconductor materials for a wide-range of applications.

Darujte tuto knihu ještě dnes
Je to snadné
1 Přidejte knihu do košíku a zvolte doručit jako dárek 2 Obratem vám zašleme poukaz 3 Kniha dorazí na adresu obdarovaného

Přihlášení

Přihlaste se ke svému účtu. Ještě nemáte Libristo účet? Vytvořte si ho nyní!

 
povinné
povinné

Nemáte účet? Získejte výhody Libristo účtu!

Díky Libristo účtu budete mít vše pod kontrolou.

Vytvořit Libristo účet