Doprava zdarma se Zásilkovnou nad 1 299 Kč
PPL Parcel Shop 54 Balík do ruky 74 Balíkovna 49 GLS 54 Kurýr GLS 64 Zásilkovna 44 PPL 99

Characterization of Stress in Gan-On-Sapphire Microelectromechanical Systems Structures Using Micro-Raman Spectroscopy

Jazyk AngličtinaAngličtina
Kniha Brožovaná
Kniha Characterization of Stress in Gan-On-Sapphire Microelectromechanical Systems Structures Using Micro-Raman Spectroscopy Francisco E Parada
Libristo kód: 08247026
Nakladatelství Biblioscholar, listopadu 2012
Micro-Raman ( Raman) spectroscopy is an e cient, non-destructive techniquewidely used to determine t... Celý popis
? points 150 b
1 502
Skladem u dodavatele Odesíláme za 15-20 dnů

30 dní na vrácení zboží


Mohlo by vás také zajímat


Auxetic Materials and Structures Teik-Cheng Lim / Pevná
common.buy 6 034
Temple Alfred Edersheim / Pevná
common.buy 541
Accounting for Affection Caroline Castiglione / Pevná
common.buy 2 767
Estranged Family of Abraham's God J Grathmore III Stratus / Pevná
common.buy 649
Beyond the Hole in the Universe Kurt Kasner / Pevná
common.buy 873
Acceptance and Commitment Therapy Frank W. Bond / Pevná
common.buy 3 849
Colthorpe Cousins, and Other Stories. Annie Thomas / Brožovaná
common.buy 561
Campbells. a Novel. [By Thomas Solly.] Thomas Solly / Brožovaná
common.buy 621
Stones of Creation R L Freeman / Brožovaná
common.buy 407
Dom Gabriel Sortis Guy Oury / Brožovaná
common.buy 885
Digital Vernacular JAMES STEVENS / Pevná
common.buy 6 771
Air Mobility David G Estep / Brožovaná
common.buy 1 502
Caract risation Et Inhibition Des -Lactamases Par Les Plantes Joseph Gangoue Pieboji / Brožovaná
common.buy 1 838
Archaeology of People Alisdair Whittle / Pevná
common.buy 4 476

Micro-Raman ( Raman) spectroscopy is an e cient, non-destructive techniquewidely used to determine the quality of semiconductor materials and microelectrome-chanical systems. This work characterizes the stress distribution in wurtzite gal-lium nitride grown on c-plane sapphire substrates by molecular beam epitaxy. Thiswide bandgap semiconductor material is being considered by the Air Force ResearchLaboratory for the fabrication of shock-hardened MEMS accelerometers.

Informace o knize

Plný název Characterization of Stress in Gan-On-Sapphire Microelectromechanical Systems Structures Using Micro-Raman Spectroscopy
Jazyk Angličtina
Vazba Kniha - Brožovaná
Datum vydání 2012
Počet stran 100
EAN 9781288368518
ISBN 9781288368518
Libristo kód 08247026
Nakladatelství Biblioscholar
Váha 195
Rozměry 189 x 246 x 5
Darujte tuto knihu ještě dnes
Je to snadné
1 Přidejte knihu do košíku a zvolte doručit jako dárek 2 Obratem vám zašleme poukaz 3 Kniha dorazí na adresu obdarovaného

Přihlášení

Přihlaste se ke svému účtu. Ještě nemáte Libristo účet? Vytvořte si ho nyní!

 
povinné
povinné

Nemáte účet? Získejte výhody Libristo účtu!

Díky Libristo účtu budete mít vše pod kontrolou.

Vytvořit Libristo účet