LIBRISTO
LIBROAMANTO
povinné
Staňte se součástí komunity milovníků knih z celého světa a získejte hromadu výhod. Založit účet zdarma
0
Doprava zdarma se Zásilkovnou nad 1 499 Kč
Kurýr DPD 69 PPL shop 49 Balíkovna 69 PPL kurýr 74 PPL box 39 Balíkovna 49 Výdejní místo DPD 49 Zásilkovna 39

Doprava zdarma při nákupu nad 1 499 Kč přes Zásilkovnu nebo PPL Box.

Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques

Jazyk AngličtinaAngličtina
Kniha Pevná
Kniha Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques Selahattin Sayil
Libristo kód: 18184965
Nakladatelství Springer International Publishing AG, prosinec 2017
This book provides readers with a comprehensive overview of the state-of-the-art in optical contactl... Celý popis
? points 236 b
2 357
Skladem u dodavatele Odesíláme za 10-13 dnů

Až 30 dní na vrácení zboží


Zákazníci také koupili


Pohádkové hrátky Marcela Kotová / Kniha Brožovaná
common.buy 207
Turistika s deťmi Ľubomír Mäkký / Kniha Brožovaná
common.buy 298
Pnin Nabokov Vladimir / Kniha Brožovaná
common.buy 243
de l'Etablissement Du Jury En Algerie Gillotte-C-E-E / Kniha Brožovaná
common.buy 311
Der Landarzt. Staffel.4, 4 DVD Sabine Jagiella / Video DVD
common.buy 578
Piratas en el aula/ Pirates in the Classroom Cornelia Franz / Kniha Brožovaná
common.buy 298
Ideen Zu Einer Geographie Der Pflanzen Alexander von Humboldt / Kniha Brožovaná
common.buy 813
Projektunterricht Matthias Altmannsberger / Kniha Brožovaná
common.buy 309

This book provides readers with a comprehensive overview of the state-of-the-art in optical contactless probing approaches, in order to fill a gap in the literature on VLSI Testing. The author highlights the inherent difficulties encountered with the mechanical probe and testability design approaches for functional and internal fault testing and shows how contactless testing might resolve many of the challenges associated with conventional mechanical wafer testing. The techniques described in this book address the increasing demands for internal access of the logic state of a node within a chip under test.

Herečka & Polyglotka
EWA KASP pro
Přehrát video
Ewa Kasp
Libristo má největší výběr cizojazyčné literatury. Proto své knihy kupuji tady.

Informace o knize

Plný název Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques
Jazyk Angličtina
Vazba Kniha - Pevná
Datum vydání 2017
Počet stran 93
EAN 9783319696720
ISBN 3319696726
Libristo kód 18184965
Váha 339
Rozměry 155 x 235 x 11
Darujte tuto knihu ještě dnes
Je to snadné
1 Přidejte knihu do košíku a zvolte doručit jako dárek 2 Obratem vám zašleme poukaz 3 Kniha dorazí na adresu obdarovaného

Mohlo by vás také zajímat


CIRCULAR OF INFO CONCERNING TH West Virginia State Board of Education / Kniha Pevná
common.buy 619
Geography and Genealogy GUELKE / Kniha Brožovaná
common.buy 1 884
Fear Of Flying Workbook David Carbonell / Kniha Brožovaná
common.buy 272
Peter Gott, the Cape Ann Fisherman. J Reynolds / Kniha Brožovaná
common.buy 504
Fanny: A Fiction Edmund White / Kniha Brožovaná
common.buy 337
You Are Freaking Awesome Huni Hunfjord / Kniha Pevná
common.buy 275
Spirits of the Northern Lights Skye Durocher / Kniha Pevná
common.buy 588
In Contact: Clinical Contact Lens Practice Dr Dirk J. Booysen / Kniha Brožovaná
common.buy 1 270
Top
Gendered Brain Gina Rippon / Kniha Brožovaná
common.buy 285
Bride of the Sea Monster Eve Langlais / Kniha Brožovaná
common.buy 250
Caregiving Patrick Egan / E-kniha Adobe ePub DRM
common.buy 280
American Pilgrimage and a Prowl in the Fleet. John Edgar Johnson / Kniha Brožovaná
common.buy 287
Top
Intellectual Life A.G. Sertillanges / Kniha Brožovaná
common.buy 410
Lima's Red Hot Chilli in French and English David Mills / Kniha Brožovaná
common.buy 325
Natural Philosophy of Plant Form Agnes Arber / Kniha Brožovaná
common.buy 766

Přihlášení

Přihlaste se ke svému účtu. Ještě nemáte Libristo účet? Vytvořte si ho nyní!

 
povinné
povinné

Nemáte účet? Získejte výhody Libristo účtu!

Díky Libristo účtu budete mít vše pod kontrolou.

Vytvořit Libristo účet
Knižní rádce Libroamiko
Ahoj, jsem Libroamiko, můžu pomoct?