Doprava zdarma se Zásilkovnou nad 1 299 Kč
PPL Parcel Shop 54 Kč
Balík do ruky 74 Kč
Balíkovna 49 Kč
GLS 54 Kč
Kurýr GLS 64 Kč
Zásilkovna 44 Kč
PPL 99 Kč
Jak nakupovat
Pomoc
Doručení
PPL Parcel Shop 54 Kč
Balík do ruky 74 Kč
Balíkovna 49 Kč
GLS 54 Kč
Kurýr GLS 64 Kč
Zásilkovna 44 Kč
PPL 99 Kč
Doprava zdarma se Zásilkovnou nad 1 299 Kč
Nákupní rádce
Jsme tu pro vás!
571 999 090
Můj účet
Staňte se součástí komunity milovníků knih z celého světa a získejte hromadu výhod.
Založit účet zdarma
▸
Prázdný :-(
0
Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997
Jazyk
Angličtina
Angličtina
Kniha
Pevná
Presents an overview of techniques used to assess, monitor, and characterize defects from the atomic...
Celý popis
Libristo kód: 06681091
?
1529 b
1529 b
15 286
Kč
Skladem u dodavatele
Odesíláme za 15-20 dnů
30 dní na vrácení zboží
Mohlo by vás také zajímat
Presents an overview of techniques used to assess, monitor, and characterize defects from the atomic scale to inhomogeneities in complete silicon wafers. This book addresses advances in defect analyzing techniques and instrumentation and their application to substrates, epilayers, and devices. It investigates defects in layers and devices.
Informace o knize
Plný název
Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997
Autor
I. Rechenberg
Jazyk
Angličtina
Angličtina
Vazba
Kniha - Pevná
Datum vydání
1998
Počet stran
524
EAN
9780750305006
ISBN
9780750305006
Libristo kód
06681091
Nakladatelství
Taylor & Francis Ltd
Váha
1170
Rozměry
156 x 234 x 30
