Doprava zdarma se Zásilkovnou nad 1 499 Kč
PPL Parcel Shop 54 Balík do ruky 74 Balíkovna 49 PPL 99 Zásilkovna 54

Digital Noise Monitoring of Defect Origin

Jazyk AngličtinaAngličtina
Kniha Brožovaná
Kniha Digital Noise Monitoring of Defect Origin Telman Aliev
Libristo kód: 01422890
Nakladatelství Springer-Verlag New York Inc., listopadu 2010
This book explores the initial stage of the origin of the defect taking into account technical, biol... Celý popis
? points 331 b
3 313
Skladem u dodavatele v malém množství Odesíláme za 12-17 dnů

30 dní na vrácení zboží


Mohlo by vás také zajímat


TOP
Better. Collisione Carrie Leighton / Brožovaná
common.buy 483
TOP
Calendar of Wisdom L N Tolstoy / Pevná
common.buy 535
Private Lives Noel Coward / Brožovaná
common.buy 472
Heartstopper. Collector's edition Alice Oseman / Pevná
common.buy 700
Introduction to the Lightning Process (R) Phil Parker / Brožovaná
common.buy 462
S Blbounem za velkým dobrodružstvím Renata Petříčková / Audio CD
common.buy 111
Gotherington Station Bryan Nicholls / Brožovaná
common.buy 192
Beyond the Infinite Keith Cavedo / Brožovaná
common.buy 2 076
200 Recetas de Pasta Maria Ricci / Brožovaná
common.buy 267
Haggis, Whisky & Co. Simon Drabosenig / Pevná
common.buy 643
Australia Under Surveillance FRANK MOORHOUSE / Brožovaná
common.buy 814
New Synthetic Methods Y. Chujo / Pevná
common.buy 5 094

This book explores the initial stage of the origin of the defect taking into account technical, biological, and other features of several technologies. These technologies allow the defect monitoring at the beginning of the defect origin to be performed at the expense of extracting information from the noise. This book appeals to a wide audience focused on solving numerous problems.Digital Noise Monitoring of Defect Origin is for both academics and professionals in the fields of engineering, biological sciences, physical science, and automation with particular emphasis on power engineering, oil-and-gas extraction, and aviation among others. The focus of the book is on determining defect origins. The author divides the process into the stages of monitoring the defect origin, identification of the defect and its stages, and control of the defect. The significance of this work is also connected to the possibility of using the noise as a data carrier for creating technologies that detect the initial stage of changes in objects.

Darujte tuto knihu ještě dnes
Je to snadné
1 Přidejte knihu do košíku a zvolte doručit jako dárek 2 Obratem vám zašleme poukaz 3 Kniha dorazí na adresu obdarovaného

Přihlášení

Přihlaste se ke svému účtu. Ještě nemáte Libristo účet? Vytvořte si ho nyní!

 
povinné
povinné

Nemáte účet? Získejte výhody Libristo účtu!

Díky Libristo účtu budete mít vše pod kontrolou.

Vytvořit Libristo účet