Doprava zdarma při nákupu nad 1 499 Kč přes Zásilkovnu nebo PPL Box.

Zjistit stav objednávky

Staňte se součástí komunity milovníků knih z celého světa a získejte hromadu výhod. Založit účet zdarma

Doprava zdarma se Zásilkovnou nad 1 499 Kč

Kurýr DPD 69 Kč PPL shop 49 Kč Balíkovna 69 Kč PPL kurýr 74 Kč PPL box 39 Kč Balíkovna 49 Kč Výdejní místo DPD 49 Kč Zásilkovna 39 Kč

Kontakt

Jak nakupovat

Pomoc

Můj účet

▸ Prázdný :-(

Doprava zdarma při nákupu nad 1 499 Kč přes Zásilkovnu nebo PPL Box.

Electromagnetic Wave Propagation inside DNG Material based 1D PhC

Name: Electromagnetic Wave Propagation inside DNG Material based 1D PhC
Brand: LAP Lambert Academic Publishing
SKU: 16756708
Price: 1135 CZK
Availability: InStock
Author: Arpan Deyasi
ISBN: 9783330332782

Arpan Deyasi

Bhaswati Das

Jazyk

Angličtina

Kniha Brožovaná

Libristo kód: 16756708

Nakladatelství LAP Lambert Academic Publishing, listopad 2016

In this book, electromagnetic wave propagation is theoretically characterized inside metamaterial-ba... Celý popis

Libristo kód: 16756708

114 b

1 135 Kč

Skladem u dodavatele Odesíláme za 5-8 dnů

Až 30 dní na vrácení zboží

Zákazníci také koupili

Folge 111:Sei Nicht Traurig,Beenjamin J. Kluckert

Audio CD

253 Kč

Dictionnaire Encyclopedique Des Sciences Medicales... Amedee Dechambre

Brožovaná

794 Kč

Stoneburner Sven Koch

Brožovaná

289 Kč

In this book, electromagnetic wave propagation is theoretically characterized inside metamaterial-based photonic crystal. Dependency of forward and backward wave propagation on coupling coefficient and grating length are analytically investigated, and transmittivity is obtained for different coupling conditions. Bragg wavelength is set at 1550 nm, and propagation characteristics are calculated for different wavelengths around the central magnitude. Three different types of metamaterial are considered namely paired nanorod, nano-fishnet with rectangular void and nano-fishnet with elliptical void as these structures are physically realizable. Comparative analysis is carried out for suitability of performance in different optoelectronic applications.