Doprava zdarma se Zásilkovnou nad 1 499 Kč
PPL Parcel Shop 54 Kč
Balík do ruky 74 Kč
Balíkovna 49 Kč
PPL 99 Kč
Zásilkovna 54 Kč
Jak nakupovat
Pomoc
Doručení
PPL Parcel Shop 54 Kč
Balík do ruky 74 Kč
Balíkovna 49 Kč
PPL 99 Kč
Zásilkovna 54 Kč
Doprava zdarma se Zásilkovnou nad 1 499 Kč
Nákupní rádce
Jsme tu pro vás!
571 999 090
Můj účet
Staňte se součástí komunity milovníků knih z celého světa a získejte hromadu výhod.
Založit účet zdarma
▸
Prázdný :-(
0
Electron Beam Testing Technology
Jazyk
Angličtina
Angličtina
Kniha
Pevná
This is the first comprehensive volume on electron beam testing for integrated circuits. Including i...
Celý popis
Libristo kód: 01378051
?
509 b
509 b
5 094
Kč
Skladem u dodavatele v malém množství
Odesíláme za 12-15 dnů
30 dní na vrácení zboží
This is the first comprehensive volume on electron beam testing for integrated circuits. Including introductory material, a guide to fundamentals, and an implementational section, the work will serve as a complete reference for both experienced practitioners as well as those unfamiliar with the technology.
Informace o knize
Plný název
Electron Beam Testing Technology
Autor
John T.L. Thong
Jazyk
Angličtina
Angličtina
Vazba
Kniha - Pevná
Datum vydání
1993
Počet stran
462
EAN
9780306443602
ISBN
0306443600
Libristo kód
01378051
Nakladatelství
Springer Science+Business Media
Váha
2500
Rozměry
178 x 254 x 27
Kategorie
Matematika a věda
>
Fyzika
>
Látky/látkové skupenství
>
Fyzika kondenzovaných látek (kapalného a pevného skupenství)
Matematika a věda
>
Chemie
>
Analytická chemie
>
Spektrální analýza, spektrochemie, hmotnostní spektrometrie
Technologie, strojírenství, zemědělství
>
Elektronické a komunikační inženýrství
>
Elektrotechnické inženýrství
>
Elektronika: obvody a komponenty
