Doprava zdarma při nákupu nad 1 499 Kč přes Zásilkovnu nebo PPL Box.

Zjistit stav objednávky

Staňte se součástí komunity milovníků knih z celého světa a získejte hromadu výhod. Založit účet zdarma

Doprava zdarma se Zásilkovnou nad 1 499 Kč

Kurýr DPD 69 Kč Balíkovna 69 Kč PPL kurýr 74 Kč PPL box 39 Kč Zásilkovna 39 Kč Výdejní místo DPD 49 Kč PPL shop 49 Kč Balíkovna 49 Kč

Kontakt

Jak nakupovat

Pomoc

Můj účet

▸ Prázdný

Doprava zdarma při nákupu nad 1 499 Kč přes Zásilkovnu nebo PPL Box.

Experimental Characterization Techniques for Micro/Nanoscale Devices

Name: Experimental Characterization Techniques for Micro/Nanoscale Devices
Brand: Springer Verlag GmbH
SKU: 11409206
Price: 3386 CZK
Availability: InStock
Author: Kimberly L. Turner
ISBN: 9780387308623

Kimberly L. Turner

Peter G. Hartwell

Jazyk

Angličtina

Kniha Pevná

Libristo kód: 11409206

Nakladatelství Springer Verlag GmbH, únor 2007

Characterization Techniques for Micro/Nanoscale Devices introduces commonly utilized and import... Celý popis

Libristo kód: 11409206

339 b

3 386 Kč

50 % šance Prohledáme celý svět Kdy knihu dostanu?

Až 30 dní na vrácení zboží

Zákazníci také koupili

The Outpost - Die komplette Serie (Alle 4 Staffeln), 12 DVDs Milan Todorovic

DVD

1 085 Kč

Le Labyrinthe au bord de la mer Zbigniew Herbert

Brožovaná

631 Kč

Un dictateur en images. Photographies de Heinrich Hoffmann Alain Sayag

Brožovaná

781 Kč

ASA. L'epopea della «Ferrarina» Franco Varisco

Pevná

940 Kč

Romy Schneider Johannes Thiele

Pevná

742 Kč

Dinamica de los gases Sergio Elaskar

Brožovaná

651 Kč

Die besten Hundepfleger - Folge 7 Die Kinder vom Sonnenscheinhof

Audio CD

328 Kč

Administrativos de la Diputación Provincial de Jaén. Temario volumen 2 Editores

Brožovaná

978 Kč

Puzzle Netflix officiel - La Chronique des Bridgerton

Kniha

759 Kč

Indice - Maths 2de - 2023 - manuel - élève Jean-Louis Bonnafet

Pevná

981 Kč

Wander dich glücklich - Nördlicher Schwarzwald Lars Freudenthal

Brožovaná

412 Kč

Affinità elettive Johann Wolfgang Goethe

Brožovaná

682 Kč

ENCUENTRO CON EL MAL Y SU SUPERACIÓN EN LA CIENCIA ESPIRITUAL Prokofieff

Brožovaná

491 Kč

Balder Hugo Marti

Pevná

509 Kč

Procesamiento de la señal de Radar en tiempo real en un FPGA Enrique Escamilla-Hernandez

Brožovaná

997 Kč

Scharfschutzen und Grenadiere an der Westfront - Todesacker Hurtgenwald Wolfgang Wallenda

Brožovaná

206 Kč

Germanias Sagenborn Emil Engelmann

Pevná

1 217 Kč

Soulmotion Natasa/Vasilic Mirkovic-De Ro

Audio CD

508 Kč

Abduktives Denken und talmudische Argumentation Ronen Reichman

Pevná

4 200 Kč

Der Osten Des Ostens Wolfgang Stephan Kissel

Pevná

2 062 Kč

El delito de lesiones al feto Eduardo Ramón Ribas

Brožovaná

1 054 Kč

I Love to Go to Daycare (Swedish Children's Book) Kidkiddos Books

Pevná

599 Kč

GRACIAS POR LA MUSICA. PORTADAS DE CD Y CASSETTE HECHAS EN CASA CASTELLANO-FRANCES-INGLES Carbonell Pallarés

Brožovaná

661 Kč

Livskvalitet Flemming Jensen

Brožovaná

683 Kč

Characterization Techniques for Micro/Nanoscale Devices introduces commonly utilized and important techniques for the dynamic measurement and characterization of MEMS and NEMS devices. It outlines many of the techniques currently available for the test and characterization of MEMS and gives guidance in choosing an adequate technique for monitoring certain signals. After reading this book, MEMs Designers and researchers will be able to determine the best test technique for his/her application, put together a viable experimental setup, complete the measurements, and do appropriate error and/or fatigue analysis on the collected data. TOC:Motivation and History of Test through Examples.- Motivation.- Applications utilizing dynamic MEMS/NEMS.- Device Test/Characterization/Modeling Techniques.- Optical methods for dynamic characterization.- Static and Quasi-static measurements for characterizing MEMS/NEMS.- Actuation Methods.- Parameterization/Modeling.- Characterizing an in-plane MEMS actuator.- Material characterization.- Material Characterization.- Failure of MEMS and Reliability testing.- Specialized Testing and Design of Test experiments.- Specialized test apparatus.- Design for Test.- Appendix.- Quick Tips for MEMS/NEMS testing and design.- Capactitive measurements for MEMS.- Index.