Doprava zdarma při nákupu nad 1 499 Kč přes Zásilkovnu nebo PPL Box.

Zjistit stav objednávky

Staňte se součástí komunity milovníků knih z celého světa a získejte hromadu výhod. Založit účet zdarma

Doprava zdarma se Zásilkovnou nad 1 499 Kč

Kurýr DPD 69 Kč Balíkovna 69 Kč PPL kurýr 74 Kč PPL box 39 Kč Zásilkovna 39 Kč Výdejní místo DPD 49 Kč PPL shop 49 Kč Balíkovna 49 Kč

Kontakt

Jak nakupovat

Pomoc

Můj účet

▸ Prázdný

Doprava zdarma při nákupu nad 1 499 Kč přes Zásilkovnu nebo PPL Box.

Failure Analysis of Integrated Circuits

Name: Failure Analysis of Integrated Circuits
Brand: Chapman and Hall
SKU: 05248309
Price: 3532 CZK
Availability: InStock
Author: Lawrence C. Wagner
ISBN: 9780412145612

Tools and Techniques

Lawrence C. Wagner

Jazyk

Angličtina

Kniha Pevná

Libristo kód: 05248309

Nakladatelství Chapman and Hall, leden 1999

Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques provides a basic understanding of how... Celý popis

Libristo kód: 05248309

353 b

3 532 Kč

Skladem u dodavatele Odesíláme za 10-13 dnů

Až 30 dní na vrácení zboží

Zákazníci také koupili

SMS Munster Ulrich Krumin

Pevná

410 Kč

Plaidoirie Pour La Famille de Montmorency Contre M. Adalbert de Talleyrand-Perigord DUFAURE-J

Brožovaná

315 Kč

Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root cause of electrical failures in integrated circuits. These include applications specific to performing failure analysis such as decapsulation, deprocessing, and fail site isolation, as well as physical and chemical analysis tools and techniques. The coverage is qualitative, and it provides a general understanding for making intelligent tool choices. Also included is coverage of the shortcomings, limitations, and strengths of each technique. Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques is a `must have' reference work for semiconductor professionals and researchers.