phone 571 999 090
LIBRISTO 0
Doprava zdarma se Zásilkovnou nad 1 499 Kč
PPL Parcel Shop 54 Kč Balík do ruky 74 Kč Balíkovna 49 Kč GLS 54 Kč Kurýr GLS 64 Kč PPL 99 Kč Zásilkovna 54 Kč
phone Kontakt phoneJak nakupovat

Fundamentals Of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations

Jazyk AngličtinaAngličtina
Kniha Pevná
Kniha Fundamentals Of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations Ronald G. Reifenberger
Libristo kód: 03611606
Nakladatelství World Scientific Publishing, listopadu 2015
The atomic force microscope (AFM) is a highly interdisciplinary instrument that enables measurements... Celý popis
? points 351 b
3 513 Kč
Skladem u dodavatele Odesíláme za 14-18 dnů

30 dní na vrácení zboží

Mohlo by vás také zajímat

Velvet Volume 3: The Man Who Stole The World Ed Brubaker / Brožovaná
common.buy 363 Kč
Lebensstucke Anna Croissant-Rust / Brožovaná
common.buy 661 Kč
Wordsworth, Commodification, and Social Concern David Simpson / Pevná
common.buy 2 356 Kč
Failsafe Control Systems K. Warwick / Brožovaná
common.buy 1 681 Kč
Mormonism Unveiled John Doyle Lee / Brožovaná
common.buy 809 Kč
disponibilidad lexica en estudiantes de educacion media Tibisay Lamus / Brožovaná
common.buy 1 234 Kč
History And Constitution Of The Courts And Legislative Authorities In India Herbert Cowell / Brožovaná
common.buy 594 Kč
Jukes-Edwards A Study in Education and Heredity A. E. Winship / Brožovaná
common.buy 673 Kč
Hybridization of Somatic Cells Boris Ephrussi / Brožovaná
common.buy 1 275 Kč
Behavior and Its Causes T. L. Smith / Brožovaná
common.buy 6 578 Kč
Capital Markets in the Development Process John H. Welch / Brožovaná
common.buy 1 681 Kč
Meaning of Ludwig von Mises Jeffrey M. Herbener / Brožovaná
common.buy 6 578 Kč
Road to Grace Richard Paul Evans / Brožovaná
common.buy 450 Kč
Story of Garfield Farm-boy, Soldier, and President William G. Rutherford / Brožovaná
common.buy 673 Kč
Managing the Olympics Stephen Frawley / Pevná
common.buy 3 907 Kč

The atomic force microscope (AFM) is a highly interdisciplinary instrument that enables measurements of samples in liquid, vacuum or air with unprecedented resolution. The intelligent use of this instrument requires knowledge from many distinct fields of s

Informace o knize

Plný název Fundamentals Of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations
Autor Ronald G. Reifenberger
Jazyk Angličtina
Vazba Kniha - Pevná
Datum vydání 2015
Počet stran 340
EAN 9789814630344
ISBN 9789814630344
Libristo kód 03611606
Nakladatelství World Scientific Publishing
Váha 614
Rozměry 158 x 238 x 23

Kategorie

Matematika a věda > Věda: obecná témata > Nanovědy
Technologie, strojírenství, zemědělství > Technologie: obecná témata > Nanotechnologie
Darujte tuto knihu ještě dnes
Je to snadné
1 Přidejte knihu do košíku a zvolte doručit jako dárek 2 Obratem vám zašleme poukaz 3 Kniha dorazí na adresu obdarovaného

Přihlášení

Přihlaste se ke svému účtu. Ještě nemáte Libristo účet? Vytvořte si ho nyní!

 
povinné
povinné
Zapomenuté heslo

Nemáte účet? Získejte výhody Libristo účtu!

Díky Libristo účtu budete mít vše pod kontrolou.

Vytvořit Libristo účet