Doprava zdarma při nákupu nad 1 499 Kč přes Zásilkovnu nebo PPL Box.

Zjistit stav objednávky

Staňte se součástí komunity milovníků knih z celého světa a získejte hromadu výhod. Založit účet zdarma

Doprava zdarma se Zásilkovnou nad 1 499 Kč

Kurýr DPD 69 Kč PPL shop 49 Kč Balíkovna 69 Kč PPL kurýr 74 Kč PPL box 39 Kč Balíkovna 49 Kč Výdejní místo DPD 49 Kč Zásilkovna 39 Kč

Kontakt

Jak nakupovat

Pomoc

Můj účet

▸ Prázdný :-(

Doprava zdarma při nákupu nad 1 499 Kč přes Zásilkovnu nebo PPL Box.

$Kniha High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography D. Keith Bowen$

High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography

Name: High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
Brand: Taylor & Francis Ltd
SKU: 24622344
Price: 2316 CZK
Availability: InStock
Author: D. Keith Bowen
ISBN: 9780367400637

D. Keith Bowen

Brian K. Tanner

Jazyk

Angličtina

Kniha Brožovaná

$Kniha High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography D. Keith Bowen$

Libristo kód: 24622344

Nakladatelství Taylor & Francis Ltd, říjen 2019

The study and application of electronic materials has created an increasing demand for sophisticated... Celý popis

Libristo kód: 24622344

232 b

2 316 Kč

Skladem u dodavatele Odesíláme za 9-15 dnů

30 dní na vrácení zboží

Zákazníci také koupili

Wiederbewaffnung Deutschlands in den Jahren 1945-1958 und die Haltung der Evangelischen Kirche Lutz Hoeth

Brožovaná

610 Kč

Betriebswirtschaftliche Ausbildung und Internationales Personalmanagement Rolf Brühl

Brožovaná

1 187 Kč

El Enclave: Edición Especial Victor Garcia Montero

Brožovaná

279 Kč

The study and application of electronic materials has created an increasing demand for sophisticated and reliable techniques for examining and characterizing these materials. This comprehensive book looks at the area of x-ray diffraction and the modern tec