Nehodí se? Vůbec nevadí! U nás můžete do 30 dní vrátit
S dárkovým poukazem nešlápnete vedle. Obdarovaný si za dárkový poukaz může vybrat cokoliv z naší nabídky.
30 dní na vrácení zboží
Timing, memory, power dissipation, testing, and testability are crucial elements of VLSI circuit design. This title treats stacked gate, embedded, and flash memory, including their power consumption and developments in low-power memories. It provides a chapter to deal with the topic of application-specific integrated circuits (ASICs).
Ahoj! Jsem Libroamiko, tvůj knižní rádce.
Jak ti můžu pomoct?