Doprava zdarma při nákupu nad 1 499 Kč přes Zásilkovnu nebo PPL Box.

Zjistit stav objednávky

Staňte se součástí komunity milovníků knih z celého světa a získejte hromadu výhod. Založit účet zdarma

Doprava zdarma se Zásilkovnou nad 1 499 Kč

Kurýr DPD 69 Kč PPL shop 49 Kč Balíkovna 69 Kč PPL kurýr 74 Kč PPL box 39 Kč Balíkovna 49 Kč Výdejní místo DPD 49 Kč Zásilkovna 39 Kč

Kontakt

Jak nakupovat

Pomoc

Můj účet

▸ Prázdný :-(

Doprava zdarma při nákupu nad 1 499 Kč přes Zásilkovnu nebo PPL Box.

Multi-Chip Module Test Strategies

Name: Multi-Chip Module Test Strategies
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 06623159
Price: 2357 CZK
Availability: InStock
Author: Yervant Zorian
ISBN: 9781461377986

Yervant Zorian

Jazyk

Angličtina

Kniha Brožovaná

Libristo kód: 06623159

Nakladatelství Springer-Verlag New York Inc., říjen 2012

MCMs today consist of complex and dense VLSI devices mounted into packages that allow little physica... Celý popis

Libristo kód: 06623159

236 b

2 357 Kč

Skladem u dodavatele Odesíláme za 5-8 dnů

30 dní na vrácení zboží

Zákazníci také koupili

Freilaufkupplungen Karl Stölzle

Brožovaná

1 214 Kč

Zenaida Y Zenobio Cathy Camarena M. Ed

Brožovaná

168 Kč

Prescription et justice pénale - Contre les illusions de l'éternité Jean Danet

Brožovaná

245 Kč

Uscire dalla sofferenza mentale. Storie di cure e di autoterapia Giovanni Andrea Fava

Brožovaná

349 Kč

Spanien, Eine Reise-Erzahlung. Mit Nachbildungen Von Handzeichnungen Des Verfassers Jozef Israels

Brožovaná

489 Kč

Geschichte Der Philosophie, Part 1: Die Griechische Philosophie Von Thales Bis Platon (1921) Ernst Hoffmann

Brožovaná

532 Kč

Multiplan 3.0 Gisela Semrau

Brožovaná

1 468 Kč

Fundaciones Tutelares y Personas Mayores Jose Daniel Rueda Estrada

Brožovaná

1 987 Kč

30 Jours Pour Créer Ce Que Tu Désires Sophie Mihalko

Brožovaná

176 Kč

El misterio del Bosque Gris Ramos Bruach

Brožovaná

461 Kč

MCMs today consist of complex and dense VLSI devices mounted into packages that allow little physical access to internal nodes. The complexity and cost associated with their test and diagnosis are major obstacles to their use. Multi-Chip Module Test Strategies presents state-of-the-art test strategies for MCMs. This volume of original research is designed for engineers interested in practical implementations of MCM test solutions and for designers looking for leading edge test and design-for-testability solutions for their next designs. §Multi-Chip Module Test Strategies consists of eight contributions by leading researchers. It is designed to provide a comprehensive and well-balanced coverage of the MCM test domain. §Multi-Chip Module Test Strategies has also been published as a special issue of the Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA, Volume 10, Numbers 1 and 2). §