Doprava zdarma při nákupu nad 1 499 Kč přes Zásilkovnu nebo PPL Box.

Zjistit stav objednávky

Staňte se součástí komunity milovníků knih z celého světa a získejte hromadu výhod. Založit účet zdarma

Doprava zdarma se Zásilkovnou nad 1 499 Kč

Kurýr DPD 69 Kč PPL shop 49 Kč Balíkovna 69 Kč PPL kurýr 74 Kč PPL box 39 Kč Balíkovna 49 Kč Výdejní místo DPD 49 Kč Zásilkovna 39 Kč

Kontakt

Jak nakupovat

Pomoc

Můj účet

▸ Prázdný :-(

Doprava zdarma při nákupu nad 1 499 Kč přes Zásilkovnu nebo PPL Box.

Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light

Name: Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Brand: ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc
SKU: 13595194
Price: 3846 CZK
Availability: InStock
Author: Pierre-Richard Dahoo
ISBN: 9781848219366

Pierre-Richard Dahoo

Philippe Pougnet

Abdelkhalak El Hami

Jazyk

Angličtina

Kniha Pevná

Libristo kód: 13595194

Nakladatelství ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc, srpen 2016

This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors presen...

Libristo kód: 13595194

385 b

3 846 Kč

Skladem u dodavatele v malém množství Odesíláme za 11-15 dnů

Až 30 dní na vrácení zboží

Zákazníci také koupili

de la Reduction Des Cinq Pour Cent, Et de la Facilite d'Acquitter Les Dettes Sans Auteur

Brožovaná

315 Kč

Parménides César Aira

Brožovaná

468 Kč

Des Innovations Dangereuses En Homoeopathie Alexis Espanet

Pevná

619 Kč

Die Naturkräfte in Den Alpen Oder Physikalische Geographie Des Alpengebirges Friedrich Pfaff

Pevná

7 025 Kč

This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light.