Doprava zdarma při nákupu nad 1 499 Kč přes Zásilkovnu nebo PPL Box.

Zjistit stav objednávky

Staňte se součástí komunity milovníků knih z celého světa a získejte hromadu výhod. Založit účet zdarma

Doprava zdarma se Zásilkovnou nad 1 499 Kč

Kurýr DPD 69 Kč PPL shop 49 Kč Balíkovna 69 Kč PPL kurýr 74 Kč PPL box 39 Kč Balíkovna 49 Kč Výdejní místo DPD 49 Kč Zásilkovna 39 Kč

Kontakt

Jak nakupovat

Pomoc

Můj účet

▸ Prázdný :-(

Doprava zdarma při nákupu nad 1 499 Kč přes Zásilkovnu nebo PPL Box.

Neutron and X-ray Reflectometry

Name: Neutron and X-ray Reflectometry
Brand: IOP Publishing
SKU: 50344164
Price: 865 CZK
Availability: InStock
Author: Saibal Basu
ISBN: 9780750346962

Emerging phenomena at heterostructure interfaces

Saibal Basu

Surendra Singh

Jazyk

Angličtina

Kniha Brožovaná

Libristo kód: 50344164

Nakladatelství IOP Publishing, prosinec 2022

This book introduces the techniques of neutron and x-ray reflectometry and presents the studies carr...

Libristo kód: 50344164

87 b

865 Kč

Skladem u dodavatele Odesíláme za 10-18 dnů

Až 30 dní na vrácení zboží

This book introduces the techniques of neutron and x-ray reflectometry and presents the studies carried out to date, using the techniques to understand emerging phenomena at the interfaces of thin films.