Doprava zdarma se Zásilkovnou nad 1 299 Kč

PPL Parcel Shop 54 Kč Balík do ruky 74 Kč Balíkovna 49 Kč GLS 54 Kč Kurýr GLS 64 Kč Zásilkovna 44 Kč PPL 99 Kč

Kontakt

Jak nakupovat

Pomoc

Můj účet

▸ Prázdný :-(

Physical Measurement and Analysis of Thin Films

Name: Physical Measurement and Analysis of Thin Films
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 02644088
Price: 1681 CZK
Availability: InStock

E. M. Murt

Jazyk

Angličtina

Kniha Brožovaná

Libristo kód: 02644088

Nakladatelství Springer-Verlag New York Inc., prosince 2013

Libristo kód: 02644088

168 b

1 681 Kč

Skladem u dodavatele v malém množství Odesíláme za 10-15 dnů

30 dní na vrácení zboží

Mohlo by vás také zajímat

Rising Brian Keene

/ Brožovaná

458 Kč

Climate Atlas of the Atlantic Ocean Ralf Lindau

/ Brožovaná

1 442 Kč

Handbuch Der Gerontopsychiatrie Hans Georg Zapotoczky

/ Kniha

4 500 Kč

Science and Technology of Rubber James Mark

/ Pevná

3 421 Kč

Mit Plan und Ziel Wolfgang Wenzel

/ Brožovaná

548 Kč

Geschaftsmodellbasierte Unternehmenssteuerung mit Business-Intelligence-Technologien Markus Linden

/ Brožovaná

1 853 Kč

HIGCSE Mathematics Module 1 University of Cambridge Local Examinations Syndicate

/ Brožovaná

336 Kč

Plano Diretor e Sustentabilidade Urbana - III Plano Diretor de Pelotas Rheingantz Abuchaim Maria

/ Brožovaná

1 533 Kč

Relativistic Many-Body Theory Ingvar Lindgren

/ Pevná

3 651 Kč

Just Care Belinda Hopkins

/ Brožovaná

1 613 Kč

Informace o knize

Plný název Physical Measurement and Analysis of Thin Films

Autor E. M. Murt

Jazyk

Angličtina

Vazba Kniha - Brožovaná

Datum vydání 2013

Počet stran 194

EAN 9781489959126

ISBN 1489959122

Libristo kód 02644088

Nakladatelství Springer-Verlag New York Inc.

Váha 311

Rozměry 152 x 229 x 12

Kategorie

Matematika a věda > Chemie > Fyzikální chemie

Darujte tuto knihu ještě dnes

Je to snadné

1 Přidejte knihu do košíku a zvolte doručit jako dárek 2 Obratem vám zašleme poukaz 3 Kniha dorazí na adresu obdarovaného

Doručení

Nákupní rádce