Doprava zdarma při nákupu nad 1 499 Kč přes Zásilkovnu nebo PPL Box.

Zjistit stav objednávky

Staňte se součástí komunity milovníků knih z celého světa a získejte hromadu výhod. Založit účet zdarma

Doprava zdarma se Zásilkovnou nad 1 499 Kč

Kurýr DPD 69 Kč PPL shop 49 Kč Balíkovna 69 Kč PPL kurýr 74 Kč PPL box 39 Kč Balíkovna 49 Kč Výdejní místo DPD 49 Kč Zásilkovna 39 Kč

Kontakt

Jak nakupovat

Pomoc

Můj účet

▸ Prázdný :-(

Doprava zdarma při nákupu nad 1 499 Kč přes Zásilkovnu nebo PPL Box.

$Kniha Quantitative X-Ray Diffractometry Giora Kimmel$

Quantitative X-Ray Diffractometry

Name: Quantitative X-Ray Diffractometry
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 06624110
Price: 2646 CZK
Availability: InStock
Author: Giora Kimmel
ISBN: 9781461395379

Giora Kimmel

Jazyk

Angličtina

Kniha Brožovaná

$Kniha Quantitative X-Ray Diffractometry Giora Kimmel$

Libristo kód: 06624110

Nakladatelství Springer-Verlag New York Inc., prosinec 2011

One of the most important techniques for determining the atomic structure of a material is X-ray dif... Celý popis

Libristo kód: 06624110

265 b

2 646 Kč

Skladem u dodavatele v malém množství Odesíláme za 13-18 dnů

Až 30 dní na vrácení zboží

Zákazníci také koupili

Las sendas de Allah : las cofradías musulmanas desde sus orígenes hasta la actualidad Alexandre Popovic

Brožovaná

821 Kč

Uso responsable de las redes sociales entre los adolescentes: Vera Mnguershima Akem

Brožovaná

893 Kč

Kudrnatá příručka Renata Stiborová

Pevná

319 Kč

Cómo convertirse en un cristiano verdadero: ?Qué significa ser salvo e ir al cielo? Charlie Avila

Brožovaná

237 Kč

Adelante GUIRUD

Kniha

608 Kč

Frauenhandel und Zwangsprostitution in Deutschland Jessica Bangisa

Brožovaná

369 Kč

Erfahrung und Theorie Stephan Körner

Pevná

618 Kč

Lasst sich die Todesstrafe rechtfertigen? Natalia Bokova

Brožovaná

369 Kč

One of the most important techniques for determining the atomic structure of a material is X-ray diffraction. One of the great problems of the technique, however, is the fact that only the intensity of the diffraction pattern can be measured, not its phase. The inverse problem, of determining the structure from the pattern thus contains ambiguities that must be resolved by other means. Quantitative X-ray analysis provides one way to resolve this phase problem: mixing the material in question with a material of known structure yields interferences that can be analyzed to yield the unknown phases. Invented in 1916, but little used at the time, the technique has seen a recent revival due to the development of extremely precise X-ray diffractometers coupled with powerful computers.