Doprava zdarma při nákupu nad 1 499 Kč přes Zásilkovnu nebo PPL Box.

Zjistit stav objednávky

Staňte se součástí komunity milovníků knih z celého světa a získejte hromadu výhod. Založit účet zdarma

Doprava zdarma se Zásilkovnou nad 1 499 Kč

Kurýr DPD 69 Kč PPL shop 49 Kč Balíkovna 69 Kč PPL kurýr 74 Kč PPL box 39 Kč Balíkovna 49 Kč Výdejní místo DPD 49 Kč Zásilkovna 39 Kč

Kontakt

Jak nakupovat

Pomoc

Můj účet

▸ Prázdný :-(

Doprava zdarma při nákupu nad 1 499 Kč přes Zásilkovnu nebo PPL Box.

Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis

Name: Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis
Brand: Cambridge University Press
SKU: 02017914
Price: 1637 CZK
Availability: InStock
Author: Zhong Lin Wang
ISBN: 9780521017954

Zhong Lin Wang

Jazyk

Angličtina

Kniha Brožovaná

Libristo kód: 02017914

Nakladatelství Cambridge University Press, srpen 2005

In this book the theories, techniques and applications of reflection electron microscopy (REM), refl... Celý popis

Libristo kód: 02017914

164 b

1 637 Kč

Skladem u dodavatele Odesíláme za 9-15 dnů

30 dní na vrácení zboží

Zákazníci také koupili

Jano i Wito. Magiczne słowa Wołoszyn Wiola

Pevná

162 Kč

Jane Eyre

Brožovaná

358 Kč

Hry šťastného dětství Aletha Solterová

Brožovaná

221 Kč

Sato Franz Kafka

Brožovaná

370 Kč

Encyclopedie de L'Islam Tome X T-U: Tome X T-U Th Bianquis

Pevná

45 804 Kč

In this book the theories, techniques and applications of reflection electron microscopy (REM), reflection high-energy electron diffraction (RHEED) and reflection electron energy-loss spectroscopy (REELS) are comprehensively reviewed for the first time. The book is divided into three parts: diffraction, imaging and spectroscopy. The text is written to combine basic techniques with special applications, theories with experiments, and the basic physics with materials science, so that a full picture of RHEED and REM emerges. An entirely self-contained study, the book contains much invaluable reference material, including FORTRAN source codes for calculating crystal structures data and electron energy loss spectra in different scattering geometries. This and many other features make the book an important and timely addition to the materials science literature.