Doprava zdarma se Zásilkovnou nad 1 499 Kč
PPL Parcel Shop 54 Balík do ruky 74 Balíkovna 49 GLS 54 Kurýr GLS 64 PPL 99 Zásilkovna 54

Scaling Effects on Metal-oxide-semiconductor Device Characteristics

Jazyk AngličtinaAngličtina
Kniha Brožovaná
Kniha Scaling Effects on Metal-oxide-semiconductor Device Characteristics STEVEN WALSTRA
Libristo kód: 22568505
Nakladatelství Dissertation Discovery Company, května 2019
Dissertation Discovery Company and University of Florida are dedicated to making scholarly works mor... Celý popis
? points 187 b
1 869
Skladem u dodavatele Odesíláme za 14-18 dnů

30 dní na vrácení zboží


Mohlo by vás také zajímat


Dissertation Discovery Company and University of Florida are dedicated to making scholarly works more discoverable and accessible throughout the world. This dissertation, "Scaling Effects on Metal-oxide-semiconductor Device Characteristics" by Steven V. Wa

Informace o knize

Plný název Scaling Effects on Metal-oxide-semiconductor Device Characteristics
Jazyk Angličtina
Vazba Kniha - Brožovaná
Datum vydání 2019
Počet stran 152
EAN 9780530002323
ISBN 0530002329
Libristo kód 22568505
Váha 367
Rozměry 216 x 279 x 8
Darujte tuto knihu ještě dnes
Je to snadné
1 Přidejte knihu do košíku a zvolte doručit jako dárek 2 Obratem vám zašleme poukaz 3 Kniha dorazí na adresu obdarovaného

Přihlášení

Přihlaste se ke svému účtu. Ještě nemáte Libristo účet? Vytvořte si ho nyní!

 
povinné
povinné

Nemáte účet? Získejte výhody Libristo účtu!

Díky Libristo účtu budete mít vše pod kontrolou.

Vytvořit Libristo účet