Doprava zdarma při nákupu nad 1 499 Kč přes Zásilkovnu nebo PPL Box.

Zjistit stav objednávky

Staňte se součástí komunity milovníků knih z celého světa a získejte hromadu výhod. Založit účet zdarma

Doprava zdarma se Zásilkovnou nad 1 499 Kč

Kurýr DPD 69 Kč PPL shop 49 Kč Balíkovna 69 Kč PPL kurýr 74 Kč PPL box 39 Kč Balíkovna 49 Kč Výdejní místo DPD 49 Kč Zásilkovna 39 Kč

Kontakt

Jak nakupovat

Pomoc

Můj účet

▸ Prázdný :-(

Doprava zdarma při nákupu nad 1 499 Kč přes Zásilkovnu nebo PPL Box.

Scanning Electron Microscopy

Name: Scanning Electron Microscopy
Brand: NY RESEARCH PRESS
SKU: 12434612
Price: 2923 CZK
Availability: InStock
Author: Lisa Page
ISBN: 9781632384065

Lisa Page

Jazyk

Angličtina

Kniha Pevná

Libristo kód: 12434612

Nakladatelství NY RESEARCH PRESS, březen 2015

Fine focused electron and ion beams constitute(s) an inevitable part of methods and instruments empl... Celý popis

Libristo kód: 12434612

292 b

2 923 Kč

50 % šance Prohledáme celý svět Kdy knihu dostanu?

30 dní na vrácení zboží

Zákazníci také koupili

TOUT VA BIEN SE PASSER BRAMI

Brožovaná

388 Kč

Procédures fiscales Thierry Lambert

Brožovaná

1 366 Kč

Le Programmeur pragmatique Andrew Hunt

Brožovaná

1 087 Kč

Arbeiter Im Volkswagenwerk Im Dritten Reich Tanja Schwabe

Brožovaná

389 Kč

Porträt des Meisters in mittleren Jahren Colm Toibin

Brožovaná

384 Kč

Un dulce rubor Gil Benítez

Brožovaná

646 Kč

La valse de l'adieu Philippe de Villiers

Brožovaná

692 Kč

Pilates per la riabilitazione. Recuperare dagli infortuni e ottimizzare la funzionalità Samantha Wood

Brožovaná

843 Kč

Mytologická zvířata Tam O'Malleyová

Pevná

159 Kč

Lída Baarová Návraty Jiří Tauchen

Pevná

55 Kč

Zwingli Aimé Richardt

Brožovaná

568 Kč

L'arabe langue vivante Volume 3 Hamida Atoui

Kniha

445 Kč

Mein amerikanischer alpTraum Karl-Heinz Bergbauer

Pevná

471 Kč

Abfindungsorientierte Kuendigungsschutzmodelle Matthias Sandmaier

Brožovaná

1 520 Kč

Traite Pratique de Magnetisme Humain, Ou Resume de Tous Les Principes Et Procedes Du Magnetisme ROUGET-F

Brožovaná

423 Kč

Fine focused electron and ion beams constitute(s) an inevitable part of methods and instruments employed in various science fields. SEMs are well instrumented and supplemented with advanced techniques and methods and thereby present endless possibilities in the areas of quantitative measurement of object topologies, surface imaging, performing elemental analysis and local electrophysical characteristics of semiconductor structures. Creation of micro and nanostructures involves extensive use of fine focused e-beam. This book focuses on various issues concerned with scanning electron microscopy, covering both theoretical and practical aspects. Numerous topics are organized under two sections, "Material Science" and "Nanostructured Materials for Electronic Industry". This book includes contributions by renowned researchers and experts in this field.