Doprava zdarma při nákupu nad 1 499 Kč přes Zásilkovnu nebo PPL Box.

Zjistit stav objednávky

Staňte se součástí komunity milovníků knih z celého světa a získejte hromadu výhod. Založit účet zdarma

Doprava zdarma se Zásilkovnou nad 1 499 Kč

Kurýr DPD 69 Kč PPL shop 49 Kč Balíkovna 69 Kč PPL kurýr 74 Kč PPL box 39 Kč Balíkovna 49 Kč Výdejní místo DPD 49 Kč Zásilkovna 39 Kč

Kontakt

Jak nakupovat

Pomoc

Můj účet

▸ Prázdný :-(

Doprava zdarma při nákupu nad 1 499 Kč přes Zásilkovnu nebo PPL Box.

Semiconductor Memory Testing

Name: Semiconductor Memory Testing
Brand: VDM Verlag Dr. Müller
SKU: 06827526
Price: 1209 CZK
Availability: InStock
Author: Anuj Gupta
ISBN: 9783639194401

Fault Models and Test Considerations for High Performance Embedded SRAM's

Anuj Gupta

Jazyk

Angličtina

Kniha Brožovaná

Libristo kód: 06827526

Nakladatelství VDM Verlag Dr. Müller, listopad 2008

Stringent test quality requirements, at-speed test limitations & total cost associated with using ex... Celý popis

Libristo kód: 06827526

121 b

1 209 Kč

U nakladatele na objednávku Odesíláme za 17-27 dnů

30 dní na vrácení zboží

Zákazníci také koupili

L'ELIXIR DE LONGUE VIE Honoré De Balzac

Brožovaná

167 Kč

Stringent test quality requirements, at-speed test limitations & total cost associated with using expensive off-chip testers for embedded memory testing have forced system designers to introduce on-chip Memory Built-in Self Test (MBIST) techniques to generate, apply, read and compares test patterns in order to expose subtle defects of SRAM''s. The book discusses in detail the various fault models and test requirements associated with embedded SRAM s in today s System-On-Chip s and focuses on the implementation of testing algorithms for embedded SRAMs in the MBIST engine. The book also discusses a finding where failure analysis and silicon debug required an update to the algorithms and pattern backgrounds implemented in the MBIST.