Nehodí se? Vůbec nevadí! U nás můžete do 30 dní vrátit
S dárkovým poukazem nešlápnete vedle. Obdarovaný si za dárkový poukaz může vybrat cokoliv z naší nabídky.
30 dní na vrácení zboží
This work provides means for a better understanding of the actions involved in the software testing of concurrent embedded systems. It complements the existing approaches for concurrency bug dynamic analysis with models of concurrency limitations present in the embedded systems domain and improves their precision, where the main evaluation criterion is the number of false positives.