Doprava zdarma se Zásilkovnou nad 1 499 Kč
PPL Parcel Shop 54 Balík do ruky 74 Balíkovna 49 GLS 54 Kurýr GLS 64 PPL 99 Zásilkovna 54

Surface Threshold Displacement Energy Measurement of Silicon

Jazyk AngličtinaAngličtina
Kniha Brožovaná
Kniha Surface Threshold Displacement Energy Measurement of Silicon J J Barnes
Libristo kód: 08281680
Nakladatelství Biblioscholar, února 2013
The Office of Scientific & Technical Information (OSTI), is a part of the U.S. Department of Energy... Celý popis
? points 165 b
1 646
Skladem u dodavatele Odesíláme za 14-18 dnů

30 dní na vrácení zboží


Mohlo by vás také zajímat


The Office of Scientific & Technical Information (OSTI), is a part of the U.S. Department of Energy (DOE) that houses research and development results from projects funded by the DOE. The information is generally an article, technical document, conference paper or dissertation. This is one of those publications.

Informace o knize

Plný název Surface Threshold Displacement Energy Measurement of Silicon
Autor J J Barnes
Jazyk Angličtina
Vazba Kniha - Brožovaná
Datum vydání 2013
Počet stran 28
EAN 9781288824335
ISBN 9781288824335
Libristo kód 08281680
Nakladatelství Biblioscholar
Váha 68
Rozměry 189 x 246 x 2
Darujte tuto knihu ještě dnes
Je to snadné
1 Přidejte knihu do košíku a zvolte doručit jako dárek 2 Obratem vám zašleme poukaz 3 Kniha dorazí na adresu obdarovaného

Přihlášení

Přihlaste se ke svému účtu. Ještě nemáte Libristo účet? Vytvořte si ho nyní!

 
povinné
povinné

Nemáte účet? Získejte výhody Libristo účtu!

Díky Libristo účtu budete mít vše pod kontrolou.

Vytvořit Libristo účet