Doprava zdarma při nákupu nad 1 499 Kč přes Zásilkovnu nebo PPL Box.
Staňte se součástí komunity milovníků knih z celého světa a získejte hromadu výhod.
Založit účet zdarma
Doprava zdarma se Zásilkovnou nad 1 499 Kč
Kurýr DPD 69 Kč
PPL shop 49 Kč
Balíkovna 69 Kč
PPL kurýr 74 Kč
PPL box 39 Kč
Balíkovna 49 Kč
Výdejní místo DPD 49 Kč
Zásilkovna 39 Kč
Kontakt
Jak nakupovat
Pomoc
Doručení
Kurýr DPD 69 Kč
PPL shop 49 Kč
Balíkovna 69 Kč
PPL kurýr 74 Kč
PPL box 39 Kč
Balíkovna 49 Kč
Výdejní místo DPD 49 Kč
Zásilkovna 39 Kč
Doprava zdarma se Zásilkovnou nad 1 499 Kč
Nákupní rádce
Jsme tu pro vás!
571 999 090
Můj účet
▸
Prázdný :-(
0
Doprava zdarma při nákupu nad 1 499 Kč přes Zásilkovnu nebo PPL Box.
Technical Foundations for Measuring Ego Development
The Washington University Sentence Completion Test
Jazyk
Angličtina
Angličtina
Kniha
Brožovaná
This book describes the evolution of the Washington University Sentence Completion Test (SCT), a maj...
Celý popis
Libristo kód: 03026751
?
191 b
191 b
1 907
Kč
Skladem u dodavatele
Odesíláme za 9-15 dnů
30 dní na vrácení zboží
Zákazníci také koupili
This book describes the evolution of the Washington University Sentence Completion Test (SCT), a major measure of ego development, from an intuitive rating scale to an empirically derived reliable and valid personality test. The authors recount the complet
Herečka
&
Polyglotka
EWA KASP
pro
Přehrát video
Libristo má největší výběr cizojazyčné literatury. Proto své knihy kupuji tady.
Informace o knize
Plný název
Technical Foundations for Measuring Ego Development
Autor
Le-Xuan Hy
Jazyk
Angličtina
Angličtina
Vazba
Kniha - Brožovaná
Datum vydání
2014
Počet stran
144
EAN
9781138012356
ISBN
9781138012356
Libristo kód
03026751
Nakladatelství
Taylor & Francis Ltd
Váha
220
Rozměry
230 x 152 x 15
