Doprava zdarma při nákupu nad 1 499 Kč přes Zásilkovnu nebo PPL Box.

Zjistit stav objednávky

Staňte se součástí komunity milovníků knih z celého světa a získejte hromadu výhod. Založit účet zdarma

Doprava zdarma se Zásilkovnou nad 1 499 Kč

Kurýr DPD 69 Kč PPL shop 49 Kč Balíkovna 69 Kč PPL kurýr 74 Kč PPL box 39 Kč Balíkovna 49 Kč Výdejní místo DPD 49 Kč Zásilkovna 39 Kč

Kontakt

Jak nakupovat

Pomoc

Můj účet

▸ Prázdný :-(

Doprava zdarma při nákupu nad 1 499 Kč přes Zásilkovnu nebo PPL Box.

Transmission Electron Microscope

Name: Transmission Electron Microscope
Brand: In Tech
SKU: 24120292
Price: 3138 CZK
Availability: InStock
Author: Khan Maaz
ISBN: 9789535104506

Khan Maaz

Jazyk

Angličtina

Kniha Pevná

Libristo kód: 24120292

Nakladatelství In Tech, duben 2012

The book "The Transmission Electron Microscope" contains a collection of research articles submitted... Celý popis

Libristo kód: 24120292

314 b

3 138 Kč

Skladem u dodavatele Odesíláme za 10-13 dnů

Až 30 dní na vrácení zboží

Zákazníci také koupili

77 Recetas de Comidas Y Jugos Para Prevenir La Perdida de Cabello Joe Correa

Brožovaná

467 Kč

Denkwu¨rdigkeiten des Herzogs Carl von Braunschweig Carl von Anonymus Braunschweig

Brožovaná

540 Kč

Klavye Sürcmesi Terry Pratchett

Brožovaná

620 Kč

Beginner's Serbian Word Searches - Volume 2 Erik Zidowecki

Brožovaná

217 Kč

Madame Favart, comédie en trois actes, mêlée de chant X.-B. Saintine

Brožovaná

315 Kč

The book "The Transmission Electron Microscope" contains a collection of research articles submitted by engineers and scientists to present an overview of different aspects of TEM from the basic mechanisms and diagnosis to the latest advancements in the field. The book presents descriptions of electron microscopy, models for improved sample sizing and handling, new methods of image projection, and experimental methodologies for nanomaterials studies. The selection of chapters focuses on transmission electron microscopy used in material characterization, with special emphasis on both the theoretical and experimental aspect of modern electron microscopy techniques. I believe that a broad range of readers, such as students, scientists and engineers will benefit from this book.