Doprava zdarma se Zásilkovnou nad 1 499 Kč
PPL Parcel Shop 54 Kč
Balík do ruky 74 Kč
Balíkovna 49 Kč
GLS 54 Kč
Kurýr GLS 64 Kč
PPL 99 Kč
Zásilkovna 54 Kč
Jak nakupovat
Pomoc
Doručení
PPL Parcel Shop 54 Kč
Balík do ruky 74 Kč
Balíkovna 49 Kč
GLS 54 Kč
Kurýr GLS 64 Kč
PPL 99 Kč
Zásilkovna 54 Kč
Doprava zdarma se Zásilkovnou nad 1 499 Kč
Nákupní rádce
Jsme tu pro vás!
571 999 090
Můj účet
Staňte se součástí komunity milovníků knih z celého světa a získejte hromadu výhod.
Založit účet zdarma
▸
Prázdný :-(
0
Thermal Testing of Integrated Circuits
Jazyk
Angličtina
Angličtina
Kniha
Pevná
Temperature has been always considered as an appreciable magnitude to detect failures in electric sy...
Celý popis
Libristo kód: 08348631
?
331 b
331 b
3 313
Kč
Skladem u dodavatele v malém množství
Odesíláme za 12-17 dnů
30 dní na vrácení zboží
Mohlo by vás také zajímat
/
Brožovaná
2 364
Kč
/
Brožovaná
584
Kč
Temperature has been always considered as an appreciable magnitude to detect failures in electric systems. Abnormal status of this variable, both too high and too low, is sign of abnormal behavior in electronic systems. This title presents the feasibility to consider temperature as an observable for testing purposes.
Informace o knize
Plný název
Thermal Testing of Integrated Circuits
Autor
Antonio Rubio
Jazyk
Angličtina
Angličtina
Vazba
Kniha - Pevná
Datum vydání
2002
Počet stran
204
EAN
9781402070761
ISBN
9781402070761
Libristo kód
08348631
Nakladatelství
Springer-Verlag New York Inc.
Váha
547
Rozměry
160 x 240 x 18
