Doprava zdarma při nákupu nad 1 499 Kč přes Zásilkovnu nebo PPL Box.

Zjistit stav objednávky

Staňte se součástí komunity milovníků knih z celého světa a získejte hromadu výhod. Založit účet zdarma

Doprava zdarma se Zásilkovnou nad 1 499 Kč

Kurýr DPD 69 Kč PPL shop 49 Kč Balíkovna 69 Kč PPL kurýr 74 Kč PPL box 39 Kč Balíkovna 49 Kč Výdejní místo DPD 49 Kč Zásilkovna 39 Kč

Kontakt

Jak nakupovat

Pomoc

Můj účet

▸ Prázdný :-(

Doprava zdarma při nákupu nad 1 499 Kč přes Zásilkovnu nebo PPL Box.

Visual Pattern Analyzers

Name: Visual Pattern Analyzers
Brand: Oxford University Press Inc
SKU: 04512506
Price: 3054 CZK
Availability: InStock
Author: Norma Van Surdam Graham
ISBN: 9780195051544

Norma Van Surdam Graham

Jazyk

Angličtina

Kniha Pevná

Libristo kód: 04512506

Nakladatelství Oxford University Press Inc

This book looks at lower level visual processing, emphasizing psychophysical experiments which measu... Celý popis

Libristo kód: 04512506

305 b

3 054 Kč

Skladem u dodavatele Odesíláme za 9-15 dnů

30 dní na vrácení zboží

Zákazníci také koupili

Deutsche Sagen Ernst Jaedicke

Brožovaná

368 Kč

Journalismus, Wirtschaft und Politik. Der Fluch der Abhangigkeit? Andrea Beckert

Brožovaná

369 Kč

Estelas Victor Segalen

Brožovaná

511 Kč

Communication progressive avance 3ed ksiazka + CD MP3 Claire Miquel

Brožovaná

784 Kč

Ninja Kid Anh Do

Pevná

294 Kč

13 Modern Artists Children Should Know Brad Finger

Pevná

542 Kč

Max Scheler

Brožovaná

806 Kč

This book looks at lower level visual processing, emphasizing psychophysical experiments which measure the detection and identification of near-threshold patterns and the mathematical models used to draw inferences from experimental results. Neurophysiological and psychophysical evidence is compared and contrasted, while introductory material on psychophysical methods, signal detection theory, and the mathematics of Fourier analysis ensure that the title is accessible to anyone interested in this field. Also included are lists of studies about analysers and parametric sensitivity on various pattern-vision dimensions.