Doprava zdarma při nákupu nad 1 499 Kč přes Zásilkovnu nebo PPL Box.

Zjistit stav objednávky

Staňte se součástí komunity milovníků knih z celého světa a získejte hromadu výhod. Založit účet zdarma

Doprava zdarma se Zásilkovnou nad 1 499 Kč

Kurýr DPD 69 Kč Balíkovna 69 Kč PPL kurýr 74 Kč PPL box 39 Kč Zásilkovna 39 Kč Výdejní místo DPD 49 Kč PPL shop 49 Kč Balíkovna 49 Kč

Kontakt

Jak nakupovat

Pomoc

Můj účet

▸ Prázdný

Doprava zdarma při nákupu nad 1 499 Kč přes Zásilkovnu nebo PPL Box.

VLSI Test Principles and Architectures

Name: VLSI Test Principles and Architectures
Brand: Elsevier Science & Technology
SKU: 02703621
Price: 1856 CZK
Availability: InStock
Author: Laung-Terng Wang
ISBN: 9780123705976

Laung-Terng Wang

Jazyk

Angličtina

Kniha Pevná

Libristo kód: 02703621

Nakladatelství Elsevier Science & Technology, srpen 2006

This book is a comprehensive guide to new DFT methods that will show the readers how to design a tes... Celý popis

Libristo kód: 02703621

186 b

1 856 Kč

50 % šance Prohledáme celý svět Kdy knihu dostanu?

Až 30 dní na vrácení zboží

Zákazníci také koupili

Europa en la Edad Media: Una nueva interpretación CHRIS WICKHAM

Brožovaná

834 Kč

Los caminos para el exito Aureliano Abenza Rodriguez

Brožovaná

237 Kč

Aus dem Leben des Generals Heinrich von Brandt Heinrich von Brandt

Brožovaná

711 Kč

Diario de un patriota complutense en la guerra de la Independencia Juan Domingo Palomar

Brožovaná

411 Kč

Mut zur Demokratie Ines Leyens

Brožovaná

1 016 Kč

Prehľadová tabulka učiva Prehľad autorov svetovej literatúry II. Dominika Nagyová

List

59 Kč

La victoire du judaisme sur le germanisme Wilhelm Marr

Brožovaná

191 Kč

Skip & Loafer #3 Misaki Takamatsu

Brožovaná

184 Kč

Atlas der 60er Jahre

Brožovaná

512 Kč

This book is a comprehensive guide to new DFT methods that will show the readers how to design a testable and quality product, drive down test cost, improve product quality and yield, and speed up time-to-market and time-to-volume. Most up-to-date coverage of design for testability. Coverage of industry practices commonly found in commercial DFT tools but not discussed in other books. Numerous, practical examples in each chapter illustrating basic VLSI test principles and DFT architectures. Lecture slides and exercise solutions for all chapters are now available. Instructors are also eligible for downloading PPT slide files and MSWORD solutions files from the manual website.