Doprava zdarma při nákupu nad 1 499 Kč přes Zásilkovnu nebo PPL Box.

Zjistit stav objednávky

Staňte se součástí komunity milovníků knih z celého světa a získejte hromadu výhod. Založit účet zdarma

Doprava zdarma se Zásilkovnou nad 1 499 Kč

Kurýr DPD 69 Kč PPL shop 49 Kč Balíkovna 69 Kč PPL kurýr 74 Kč PPL box 39 Kč Balíkovna 49 Kč Výdejní místo DPD 49 Kč Zásilkovna 39 Kč

Kontakt

Jak nakupovat

Pomoc

Můj účet

▸ Prázdný :-(

Doprava zdarma při nákupu nad 1 499 Kč přes Zásilkovnu nebo PPL Box.

X-Ray Diffuse Scattering from Self-Organized Mesoscopic Semiconductor Structures

Name: X-Ray Diffuse Scattering from Self-Organized Mesoscopic Semiconductor Structures
Brand: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
SKU: 01558645
Price: 3532 CZK
Availability: InStock
Author: Martin Schmidbauer
ISBN: 9783540201793

Martin Schmidbauer

Jazyk

Angličtina

Kniha Pevná

Libristo kód: 01558645

Nakladatelství Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG, leden 2004

This monograph represents a critical survey of the outstanding capabilities of X-ray diffuse scatter... Celý popis

Libristo kód: 01558645

353 b

3 532 Kč

Skladem u dodavatele Odesíláme za 10-13 dnů

30 dní na vrácení zboží

Zákazníci také koupili

Schritt für Schritt MIT LINKS ins Glück, m. 1 Karte Frank Steinkopf

Pevná

511 Kč

Zwang der Zwanglosigkeit - Das Gesprach und seine Regeln in der Salonkonversation des 17. Jahrhunderts Melanie Bitterberg

Brožovaná

369 Kč

Nie mehr Fleisch! Manuela Gruber

Brožovaná

814 Kč

Artes marciais e adolescentes: Cynthia de Freitas Melo

Brožovaná

813 Kč

System der Medusen Haeckel Ernst Haeckel

Brožovaná

570 Kč

Efectividad del heberprot-p® en pacientes diabéticos tratados Esther Catalá

Brožovaná

813 Kč

Um Sol ao Dia Edmar Camara

Brožovaná

237 Kč

Esprit critique, esprit scientifique Farina

Brožovaná

863 Kč

MEX Das mündliche Examen - Bildgebende Verfahren in der Medizin Jörg Wilhelm Oestmann

Brožovaná

629 Kč

Aspekte der Globalisierung Carl Baudenbacher

Pevná

1 134 Kč

This monograph represents a critical survey of the outstanding capabilities of X-ray diffuse scattering for the structural characterization of mesoscopic material systems. The mesoscopic regime comprises length scales ranging from a few up to some hundreds of nanometers. It is of particular relevance at semiconductor layer systems where, for example, interface roughness or low-dimensional objects such as quantum dots and quantum wires have attracted much interest. An extensive overview of the present state-of-the-art theory of X-ray diffuse scattering at mesoscopic structures is given followed by a valuable description of various experimental techniques. Selected up-to-date examples are discussed. The aim of the present book is to combine aspects of self-organized growth of mesoscopic structures with corresponding X-ray diffuse scattering experiments.