Doprava zdarma při nákupu nad 1 499 Kč přes Zásilkovnu nebo PPL Box.

Zjistit stav objednávky

Staňte se součástí komunity milovníků knih z celého světa a získejte hromadu výhod. Založit účet zdarma

Doprava zdarma se Zásilkovnou nad 1 499 Kč

Kurýr DPD 69 Kč PPL shop 49 Kč Balíkovna 69 Kč PPL kurýr 74 Kč PPL box 39 Kč Balíkovna 49 Kč Výdejní místo DPD 49 Kč Zásilkovna 39 Kč

Kontakt

Jak nakupovat

Pomoc

Můj účet

▸ Prázdný :-(

Doprava zdarma při nákupu nad 1 499 Kč přes Zásilkovnu nebo PPL Box.

X-Ray Diffuse Scattering from Self-Organized Mesoscopic Semiconductor Structures

Name: X-Ray Diffuse Scattering from Self-Organized Mesoscopic Semiconductor Structures
Brand: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
SKU: 01651105
Price: 3532 CZK
Availability: InStock
Author: Martin Schmidbauer
ISBN: 9783642057694

Martin Schmidbauer

Jazyk

Angličtina

Kniha Brožovaná

Libristo kód: 01651105

Nakladatelství Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG, prosinec 2010

This monograph represents a critical survey of the outstanding capabilities of X-ray diffuse scatter... Celý popis

Libristo kód: 01651105

353 b

3 532 Kč

Skladem u dodavatele Odesíláme za 5-8 dnů

Až 30 dní na vrácení zboží

Zákazníci také koupili

Tři přednášky o gnozi Jan Kozák

Brožovaná

118 Kč

Moeglichkeiten zur Gestaltung verbindlicher Telekooperation Moritz Strasser

Brožovaná

1 178 Kč

Pero gelové Pentel EnerGel BL407 - černé 0,7mm v dárkové krabičce

Papírenské zboží

231 Kč

Großmutters Kräuterapotheke Renate Dittus-Bär

Brožovaná

285 Kč

Histoire de l'Archiduc Albert ( 1693 ) Anonymious

Brožovaná

640 Kč

Gog Giovanni Papini

Brožovaná

393 Kč

Codex Diplomaticus Brandenburgensis, Herausg. Von A.F. Riedel Brandenburg Electorate

Brožovaná

685 Kč

Aux Poilus ! Contre La Demoralisation Edouard Poulain

Brožovaná

358 Kč

This monograph represents a critical survey of the outstanding capabilities of X-ray diffuse scattering for the structural characterization of mesoscopic material systems. The mesoscopic regime comprises length scales ranging from a few up to some hundreds of nanometers. It is of particular relevance at semiconductor layer systems where, for example, interface roughness or low-dimensional objects such as quantum dots and quantum wires have attracted much interest. An extensive overview of the present state-of-the-art theory of X-ray diffuse scattering at mesoscopic structures is given followed by a valuable description of various experimental techniques. Selected up-to-date examples are discussed. The aim of the present book is to combine aspects of self-organized growth of mesoscopic structures with corresponding X-ray diffuse scattering experiments.