Doprava zdarma se Zásilkovnou nad 1 499 Kč
PPL Parcel Shop 54 Kč
Balík do ruky 74 Kč
Balíkovna 49 Kč
PPL 99 Kč
Zásilkovna 54 Kč
Jak nakupovat
Pomoc
Doručení
PPL Parcel Shop 54 Kč
Balík do ruky 74 Kč
Balíkovna 49 Kč
PPL 99 Kč
Zásilkovna 54 Kč
Doprava zdarma se Zásilkovnou nad 1 499 Kč
Nákupní rádce
Jsme tu pro vás!
571 999 090
Můj účet
Staňte se součástí komunity milovníků knih z celého světa a získejte hromadu výhod.
Založit účet zdarma
▸
Prázdný :-(
0
X-Ray Structure Analysis
Jazyk
Angličtina
Angličtina
Kniha
Brožovaná
This book offers a compact overview on crystallography, symmetry, and applications of symmetry conce...
Celý popis
Libristo kód: 37630060
?
159 b
159 b
1 594
Kč
Skladem u dodavatele
Odesíláme za 14-18 dnů
30 dní na vrácení zboží
Zákazníci také koupili
This book offers a compact overview on crystallography, symmetry, and applications of symmetry concepts. The author explains the theory behind scattering and diffraction of electromagnetic radiation. X-ray diffraction on single crystals as well as quantitative evaluation of powder patterns are discussed.
Informace o knize
Plný název
X-Ray Structure Analysis
Autor
Theo Siegrist
Jazyk
Angličtina
Angličtina
Vazba
Kniha - Brožovaná
Datum vydání
2021
Počet stran
250
EAN
9783110610703
ISBN
3110610701
Libristo kód
37630060
Nakladatelství
De Gruyter
Váha
418
Rozměry
170 x 240 x 13
