Doprava zdarma při nákupu nad 1 499 Kč přes Zásilkovnu nebo PPL Box.

Zjistit stav objednávky

Staňte se součástí komunity milovníků knih z celého světa a získejte hromadu výhod. Založit účet zdarma

Doprava zdarma se Zásilkovnou nad 1 499 Kč

Kurýr DPD 69 Kč Balíkovna 69 Kč PPL kurýr 74 Kč PPL box 39 Kč Zásilkovna 39 Kč Výdejní místo DPD 49 Kč PPL shop 49 Kč Balíkovna 49 Kč

Kontakt

Jak nakupovat

Pomoc

Můj účet

▸ Prázdný :-(

Doprava zdarma při nákupu nad 1 499 Kč přes Zásilkovnu nebo PPL Box.

Advanced Test Methods for SRAMs

Name: Advanced Test Methods for SRAMs
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 01420517
Price: 2645 CZK
Availability: InStock
Author: Patrick Girard
ISBN: 9781441909374

Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies

Patrick Girard

Alberto Bosio

Luigi Dilillo

Jazyk

Angličtina

Kniha Pevná

Libristo kód: 01420517

Nakladatelství Springer-Verlag New York Inc., říjen 2009

Modern electronics depend on nanoscaled technologies that present new challenges in terms of testing... Celý popis

Libristo kód: 01420517

265 b

2 645 Kč

Skladem u dodavatele v malém množství Odesíláme za 13-18 dnů

Až 30 dní na vrácení zboží

Zákazníci také koupili

Mémoires partagées Bernabé Gil

Digital CD

280 Kč

A gyermekek játéka és ami mögötte van Kerekes Valéria

Pevná

210 Kč

La Femme Chaude du Milliardaire Rossi

Brožovaná

424 Kč

Chinese Short Stories for Beginners (Part 1) Qing Qing Jiang

Brožovaná

1 121 Kč

De dokter en de dood Lia van Zuylen

Adobe ePub DRM

1 731 Kč

Um casamento muito especial Liz Fielding

Adobe ePub DRM

80 Kč

irresistible caida del muro de Berlin Fernando Villaverde

Brožovaná

556 Kč

Les Celebracions dominicals en absència de prevere

Brožovaná

634 Kč

Astronomie Populaire, Description Generale Du Ciel. Tome 2 Camille Flammarion

Brožovaná

720 Kč

La consultation avec l'enfant Pierre Delion

Kniha

1 044 Kč

Wolframio

Brožovaná

447 Kč

El Filosofo Amigo Robert Crosbie

Pevná

664 Kč

Quarteto Fantástico: Ensino de Física e Satisfação Cultural Francisco de Assis Nascimento Junior

Brožovaná

1 077 Kč

Non rinunciarono: Libro illustrato per bambini Italiano-Bulgaro (Edizione bilingue) Richard Carlson Jr

Brožovaná

261 Kč

Eloge de l'Acacia - Chroniques: Nouvelle Edition revue et augmentée M Andre Moser

Brožovaná

286 Kč

Modern electronics depend on nanoscaled technologies that present new challenges in terms of testing and diagnostics. Memories are particularly prone to defects since they exploit the technology limits to get the highest density. This book is an invaluable guide to the testing and diagnostics of the latest generation of SRAM, one of the most widely applied types of memory. Classical methods for testing memory are designed to handle the so-called "static faults," but these test solutions are not sufficient for faults that are emerging in the latest Very Deep Sub-Micron (VDSM) technologies. These new fault models, referred to as "dynamic faults", are not covered by classical test solutions and require the dedicated test sequences presented in this book.