Doprava zdarma se Zásilkovnou nad 1 499 Kč
PPL Parcel Shop 54 Kč
Balík do ruky 74 Kč
Balíkovna 49 Kč
GLS 54 Kč
Kurýr GLS 64 Kč
PPL 99 Kč
Zásilkovna 54 Kč
Jak nakupovat
Pomoc
Doručení
PPL Parcel Shop 54 Kč
Balík do ruky 74 Kč
Balíkovna 49 Kč
GLS 54 Kč
Kurýr GLS 64 Kč
PPL 99 Kč
Zásilkovna 54 Kč
Doprava zdarma se Zásilkovnou nad 1 499 Kč
Nákupní rádce
Jsme tu pro vás!
571 999 090
Můj účet
Staňte se součástí komunity milovníků knih z celého světa a získejte hromadu výhod.
Založit účet zdarma
▸
Prázdný :-(
0
Jazyk
Angličtina
Angličtina
Kniha
Brožovaná
Valuable testing and diagnostic methods for the latest generation of static random access memory (SR...
Celý popis
Libristo kód: 09062252
?
361 b
361 b
3 611
Kč
Skladem u dodavatele v malém množství
Odesíláme za 12-17 dnů
30 dní na vrácení zboží
Mohlo by vás také zajímat
/
Brožovaná
315
Kč
Valuable testing and diagnostic methods for the latest generation of static random access memory (SRAM), are presented in this comprehensive guide. New fault models are required for the latest very deep sub-micron (VDSM) technologies, and are outlined here.§
Informace o knize
Plný název
Advanced Test Methods for SRAMs
Jazyk
Angličtina
Angličtina
Vazba
Kniha - Brožovaná
Datum vydání
2014
Počet stran
171
EAN
9781489983145
ISBN
9781489983145
Libristo kód
09062252
Nakladatelství
Springer-Verlag New York Inc.
Váha
297
Rozměry
155 x 235 x 235
