phone 571 999 090
LIBRISTO 0
Doprava zdarma se Zásilkovnou nad 1 499 Kč
PPL Parcel Shop 54 Kč Balík do ruky 74 Kč Balíkovna 49 Kč GLS 54 Kč Kurýr GLS 64 Kč PPL 99 Kč Zásilkovna 54 Kč
phone Kontakt phoneJak nakupovat

CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155

Jazyk AngličtinaAngličtina
Kniha Brožovaná
Kniha CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 Alexander A. Demkov
Libristo kód: 02439020
Nakladatelství Cambridge University Press, června 2014
To address the increasing demands of device scaling, new materials are being introduced into convent... Celý popis
? points 100 b
998 Kč
Skladem u dodavatele Odesíláme za 15-20 dnů

30 dní na vrácení zboží

Mohlo by vás také zajímat

Handbook of Global Agricultural Markets Luc Nijs / Pevná
common.buy 3 313 Kč
Red Lily - Complete Anatole France / Brožovaná
common.buy 829 Kč
Creative Thinking Ages 6-8 Ann Baker / Brožovaná
common.buy 597 Kč
Séminaire de Probabilités X P.-A. Meyer / Brožovaná
common.buy 1 800 Kč
Century 21 Chris Bentley / Pevná
common.buy 765 Kč
Albert Hall Lenore Coltheart / Brožovaná
common.buy 1 182 Kč
Die Arterio-Ven sen Anastomosen Max Clara / Brožovaná
common.buy 1 830 Kč
Last Cowboys John Branch / Pevná
common.buy 652 Kč
Analysis and Modeling of Faces and Gestures S. Kevin Zhou / Brožovaná
common.buy 1 681 Kč
Auf Der Suche Nach Der Bilanzwahrheit Carl Zimmerer / Brožovaná
common.buy 1 830 Kč
Advanced Intelligent Computing Theories and Applications De-Shuang Huang / Brožovaná
common.buy 3 362 Kč
Bibliotherapeutische Thematisierung von Sterben und Tod unter Berucksichtigung religioeser Vielfalt an der Schule mit Foerderschwerpunkt koerperliche Peter Schneider / Brožovaná
common.buy 1 256 Kč
Controversies in Innocence Cases in America Sarah Lucy Cooper / Pevná
common.buy 5 181 Kč
Heresy and Obedience in Tridentine Italy Dermot Fenlon / Brožovaná
common.buy 1 490 Kč
Maintaining Health Formerly Health and Efficiency R. L. Alsaker / Brožovaná
common.buy 1 143 Kč
Homeward Bound Or, the Chase James Fenimore Cooper / Brožovaná
common.buy 1 143 Kč

To address the increasing demands of device scaling, new materials are being introduced into conventional Si CMOS processing at an unprecedented rate. Presentations collected here focus on understanding, from a chemistry and materials perspective, the mechanism of interface formation and defects at interfaces, for both conventional Si and alternative channel (Ge or III-V) systems. Several papers address reliability concerns for high-k/metal gate (basic physical models, charge trapping, etc.), while others cover characterization of the thin films and interfaces which comprise the gate stack. Topics include: advanced Si-based gate stacks; and alternate channel materials.

Informace o knize

Plný název CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155
Autor Alexander A. Demkov, Bill Taylor, H. Rusty Harris, Jeffery W. Butterbaugh
Jazyk Angličtina
Vazba Kniha - Brožovaná
Datum vydání 2014
Počet stran 194
EAN 9781107408326
ISBN 1107408326
Libristo kód 02439020
Nakladatelství Cambridge University Press
Váha 27
Rozměry 152 x 229 x 10

Kategorie

Technologie, strojírenství, zemědělství > Strojírenství a materiály > Výrobní inženýrství > Průmyslová kontrola kvality
Technologie, strojírenství, zemědělství > Strojírenství a materiály > Materiologie
Darujte tuto knihu ještě dnes
Je to snadné
1 Přidejte knihu do košíku a zvolte doručit jako dárek 2 Obratem vám zašleme poukaz 3 Kniha dorazí na adresu obdarovaného

Přihlášení

Přihlaste se ke svému účtu. Ještě nemáte Libristo účet? Vytvořte si ho nyní!

 
povinné
povinné
Zapomenuté heslo

Nemáte účet? Získejte výhody Libristo účtu!

Díky Libristo účtu budete mít vše pod kontrolou.

Vytvořit Libristo účet